島津EDX-GP型X射線熒光光譜儀
島津EDX-GP型X射線熒光光譜儀 EDX-GP是適合用于RoHS/ELV/無鹵素法規(guī)限制的有害元素篩選分析的X射線熒光分析裝置。 第一次使用，也能輕松操作，操作簡便且以更高的精度進行微量分析，達到高靈敏度與佳分辨率的完美結(jié)合。EDX-GP標準配置RoHS/ELV/無鹵素分析所需的
RoHS檢測儀--Ux-230
可以對RoHS指令和無鹵化標準中的六種有害元素（Pb，Cd，Hg，Br，Cr，Cl）進行精準測試；元素分析范圍：從鋁(Al)到鈾(U)，ppm量級；
Ux-510多元素分析專家
真空測試系統(tǒng) 特別設計的真空測試系統(tǒng)，全面保證了輕質(zhì)元素（CL等）的檢測質(zhì)量，同時保留了原有測試系統(tǒng)對于其他元素的適應性。不會因測輕質(zhì)元素而降低對其他元素的測試效果。
島津EDX-LE型X射線熒光光譜儀
島津EDX-LE型X射線熒光光譜儀EDX-LE是一款專用于RoHS/ELV/法規(guī)限制的有害元素篩選分析的X射線熒光分析裝置。 （主營EDX-700，EDX-720，EDX-700，EDX-LE等X射線熒光光譜儀）配備無需液氮型電子制冷（Si-PIN檢測器）檢測器。
手持式牛津光譜儀 合金分析儀
涵蓋廣泛的開放式牌號庫，X-MET5000可允許方便地編輯牌號庫，包括增加新型合金以及為合金命名。它同時自帶有集成的牌號庫，其中包含： 鎳合金 不銹鋼 鈷合金 低合金鋼 工具鋼 銅合金 鈦合金 鋯合金 鋁合金（重合金元素） 三種運行模式： 定量分析與牌號鑒定 直接光譜鑒定 合格/不合格篩選
熒光光譜測量系統(tǒng)
光譜測量系統(tǒng) 熒光光譜測量系統(tǒng) 熒光光譜測量系統(tǒng)的說明 熒光光譜測量系統(tǒng)的介紹 熒光光譜測量系統(tǒng)的特點 熒光光譜測量系統(tǒng)的簡圖
X熒光6900 6800 6306測黃金，鉑金純度,首飾無損鑒定
X射線熒光光譜法是取代試金石法、比重法、化學方法測金的佳選擇。儀器可檢測各種形狀的金、鉑、銀及其它貴金屬飾品，并可顯示X熒光光譜圖象和金、銀、銅及合金的含量。
微X－射線熒光光譜儀
X-Pectra代表新一代的X射線微熒光光譜儀，它用來描述許多種材料的化學混合物的結(jié)構(gòu)，包括固體，液體，薄膜和粉末 樣品。 應用領(lǐng)域包括冶金和有色金屬，地質(zhì)，礦業(yè)，珠寶，法醫(yī)科學，藝術(shù)品估，海關(guān)監(jiān)察，
聯(lián)用技術(shù)原子熒光光譜儀
全新設計的聯(lián)用接口技術(shù)，可實現(xiàn)與各種高效液相色譜和離子色譜的簡單連接，有效降低峰展寬，以及不同元素形態(tài) 的高效光催化氧化與還原。