2007年10月22日，美國Phenotype Screening公司（PSC）總裁Daniel W. McDonald先生一行訪問了澤泉科技有限公司，并對澤泉科技銷售和技術人員進行了植物根系X-光掃描成像分析系統RootViz FS的產品培訓。
美國PSC公司的植物根系X-光掃描成像分析系統是一套新型、高效率、高精度、非破壞性的測量系統，用于對盆栽植物的根系進行原位成像分析，可以拍攝根系的立體X-光照片。它是植物根系研究領域繼根視（rhizotron）系統后最激動人心的發明。今年6月，這套系統剛剛獲得2006年度美國R&D 100發明大獎。自RootViz FS面世不久，澤泉科技就與PSC公司建立了密切的合作關系。這次借PSC隨田納西州“中國商務代表團”訪華之機，澤泉科技與PSC公司學合作，分別在中科院植物研究所、西北農林科技大學和蘭州大學舉辦了三場技術講座。
為加深對RootViz FS的了解，澤泉科技北京分部和成都分部同事均返回上海總部，參加了McDonald先生的培訓。江蘇大學相關專家也趕來參加了此次培訓。這次培訓反響十分熱烈，大家對RootViz FS的強大功能交口稱贊，對其市場前景具有良好的預期。
本次訪問加深了PSC公司對澤泉科技的了解，McDonald先生對澤泉科技的工作給予極高評價。同時，澤泉科技與PSC公司簽署了進一步合作的備忘錄。
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Phenotype Screening公司訪問澤泉科技
作者：上海澤泉科技股份有限公司 2007-10-23T00:00 (訪問量:6593)
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